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  • 真空高溫試驗(yàn)箱 真空烘箱是一種專業(yè)的測試設(shè)備,主要用于模擬真空環(huán)境下的高溫條件,以評(píng)估和測試材料、部件或產(chǎn)品的性能和可靠性。材質(zhì):外箱通常采用優(yōu)質(zhì)鋼板靜電噴塑,內(nèi)箱采用進(jìn)口高級(jí)不銹鋼SUS304,確保耐腐蝕和耐用性??刂葡到y(tǒng):觸摸屏PLC程序控制,微處理器PID自動(dòng)調(diào)諧,提供精確的溫控和操作便捷性。

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    產(chǎn)品價(jià)格:30000
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2024-07-16
  • hast加速老化試驗(yàn)箱 高溫蒸煮試驗(yàn)設(shè)備是一種用于模擬高溫高濕環(huán)境下產(chǎn)品老化過程的試驗(yàn)設(shè)備。這種設(shè)備通過在高溫和高濕度條件下對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行測試,可以加速產(chǎn)品的老化過程,從而在較短的時(shí)間內(nèi)評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和耐久性。HAST試驗(yàn)箱通常用于電子、半導(dǎo)體、連接器、線路板等產(chǎn)品的可靠性測試。應(yīng)用領(lǐng)域:電子產(chǎn)品:評(píng)估電子元件和組件在高溫高濕環(huán)境下的性能和壽命。

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    產(chǎn)品價(jià)格:98000
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2024-07-16
  • hast老化試驗(yàn)箱 高壓加速老化測驗(yàn)箱加速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等),加快試驗(yàn)過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件,和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。HAST內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計(jì),復(fù)合國家安全容器標(biāo)準(zhǔn),可以防止試驗(yàn)結(jié)露滴水現(xiàn)象,從而避免產(chǎn)品。

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    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2024-07-16
  • HAST非飽和試驗(yàn)箱是一種用于模擬高溫高濕環(huán)境下的壓力條件的試驗(yàn)設(shè)備。與傳統(tǒng)的HAST試驗(yàn)箱相比,它可以在高溫高濕的條件下施加較低的壓力。溫度和濕度范圍:不同型號(hào)的HAST高加速試驗(yàn)箱溫度和濕度范圍不同,需要根據(jù)自己產(chǎn)品的工作環(huán)境來選擇合適的試驗(yàn)箱。一般來說,溫度范圍應(yīng)在110℃以上,濕度范圍應(yīng)在85%RH以上。

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    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2024-07-16
  • HAST高加速試驗(yàn)箱是一種用于模擬高溫高濕環(huán)境下的高壓條件的試驗(yàn)設(shè)備。它結(jié)合了高溫高濕試驗(yàn)和高壓試驗(yàn)的功能,可以對(duì)電子產(chǎn)品在復(fù)雜環(huán)境下的可靠性進(jìn)行評(píng)估。 通常由試驗(yàn)箱本體、加熱系統(tǒng)、加濕系統(tǒng)、高壓系統(tǒng)、溫濕度控制系統(tǒng)和安全保護(hù)系統(tǒng)等組成。它可以提供高溫高濕的環(huán)境,并在此基礎(chǔ)上加入高壓電源,模擬產(chǎn)品在高溫高濕和高壓條件下的工作狀態(tài)。

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    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2024-07-16
  • HAST高壓試驗(yàn)箱是一種用于模擬高溫高濕環(huán)境下的高壓條件的試驗(yàn)設(shè)備。它結(jié)合了高溫高濕試驗(yàn)和高壓試驗(yàn)的功能,可以對(duì)電子產(chǎn)品在復(fù)雜環(huán)境下的可靠性進(jìn)行評(píng)估。hast高壓試驗(yàn)箱通常由試驗(yàn)箱本體、加熱系統(tǒng)、加濕系統(tǒng)、高壓系統(tǒng)、溫濕度控制系統(tǒng)和安全保護(hù)系統(tǒng)等組成。它可以提供高溫高濕的環(huán)境,并在此基礎(chǔ)上加入高壓電源,模擬產(chǎn)品在高溫高濕和高壓條件下的工作狀態(tài)。

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    更新日期:2024-07-16
  • HAST壽命試驗(yàn)箱是一種用于加速濕熱條件下芯片、元器件等電子產(chǎn)品的老化失效試驗(yàn)設(shè)備。HAST全稱為Highly Accelerated Stress Test,即高度加速應(yīng)力試驗(yàn)。它可以在相對(duì)較短的時(shí)間內(nèi)對(duì)電子元器件的性能和可靠性進(jìn)行評(píng)估,節(jié)省了測試時(shí)間和成本。HAST試驗(yàn)箱主要包括試驗(yàn)箱本體、加熱系統(tǒng)、加濕系統(tǒng)、壓力系統(tǒng)、溫濕度控制系統(tǒng)、安全保護(hù)系統(tǒng)等部分。廣泛包括集成電路、半導(dǎo)體器件、電子元

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    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2024-07-16
  • 國產(chǎn)HAST試驗(yàn)箱采用優(yōu)化設(shè)計(jì),美觀大方,做工精細(xì)。具備特制的試樣架免去繁雜的接線作業(yè)。加熱方式:試驗(yàn)箱的加熱方式主要有外加熱和內(nèi)加熱兩種方式,其中內(nèi)加熱方式更為常用。內(nèi)加熱方式可以通過在試驗(yàn)箱內(nèi)部設(shè)置電熱管或者熱風(fēng)循環(huán)來實(shí)現(xiàn)。對(duì)應(yīng)IEC60068-2-66條件,具有直接測量箱內(nèi)溫濕度的干、濕球溫度傳感器。具有緩降壓、排氣、排水功能,控制避免試驗(yàn)結(jié)束后壓力溫度的急變,保證試驗(yàn)結(jié)果的正確。

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    更新日期:2024-07-16
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